QFN8-1.27下压探针测试座

 产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN8的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN8引脚间距1.27mm

测试座:QFN8-1.27

特点:采用进口探针,接触更稳定,寿命更长