3.2×1.5-2PIN晶振探针老化座/测试座

(通孔焊接型)

 产品简介

一、产品用途:老化座、测试座,对3215(3.2*1.5mm)的晶振IC进行高低温老化测试

二、适用封装: 3215(3.2*1.5mm)-2PIN贴片晶振

三、探针结构,接触稳定、体积小。

四、采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长

五、镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度,使用寿命(翻盖结构20000次)

六、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD档