BGA152转DIP48翻盖探针测试座

产品简介

产品用途:测试座,对BGA152/BGA132的flash芯片进行测试

适用封装: BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm

测试座: BGA152-1.0

特点:  采用进口探针,电阻值更小,可过更高的测试频率;

              使用寿命更高,可长达15万次左右,测试稳定性更高;

              可维修,芯片测试良率较其它品牌的弹片测试座可提高3%-8%;

              翻盖结构,取放芯片方便,操作更简单。