LGA52翻盖探针转DIP48芯片测试座

产品特点:

1、大小兼容设计,只要换限位框,即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH; 

2、配不同的主控板,可实现芯邦,UT165,安国,SMI,NETWORK方案可互换!。 

3、专利设计的转换板可以实现LGA与TSOP主控板共用,即同一款主控板只要换座头既可测LGA,也可以测TSOP的FLASH芯片; 

4、采用一拖四架构设计,省去外置HUB,每台电脑可同时量产16PCS Flash芯片,效率倍增; 

5、测试寿命可达20万次以上,是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿命的10倍以上; 

6、采用手动翻盖式结构,操作方便; 

7、上盖的压板采用特殊结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位; 

8、高精度的定位槽,保证LGA定位精确,生产效率高; 

9、整机24小时工作性能稳定可靠,是FLASH经销商及U盘工厂好帮手!