LGA60翻盖探针转DIP48测试座

产品简介

 1. 大小兼容设计,只要换限位框,即可测试外形尺寸不同的LGA  FLASH;

 2. LGA测试座测试寿命可达20万次以上,是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿命的10倍以上;并且探针可更换,维修方便,成本低;

 6. 采用手动翻盖式结构,操作方便;

 7. 上盖的压板采用特殊结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;

 8. 高精度的定位槽,保证LGA定位精确,生产效率高;

 9. 整机24小时工作性能稳定可靠,是FLASH经销商及U盘工厂好帮手!

 10. 探针材料:铍铜(标准);

 11.绝缘材料:FR-4、PPS等;

 产品功能

 1. 对Flash进行清空及分类挑选。

 2.对Nand Flash进行格式化,测试实际可以用容量。

 3.对Flash进行直接量产,提高U盘生产效率。