QFN52-0.5翻盖弹片测试座/老化座

 产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN52的IC芯片进行老化、测试

适用封装:QFN52引脚间距0.5mm

测试座:QFN52-0.5

特点:采用U型顶针,接触更稳定