QFN76-0.4(9*9)翻盖弹片测试座

 

产品简介

 

产品用途

编程座、测试座,对QFN76的IC芯片进行烧写、测试

适用封装

QFN76引脚间距0.4mm

测试座

QFN76-0.4

特点

底部引出引脚为不规则排列

      实物图