QFN8-0.5下压/顶窗探针测试座

 产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN8的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN8引脚间距0.5mm

测试座:QFN8-0.5

特点:采用进口探针,接触更稳定,寿命更长

 规格尺寸

型号:QFN-8-0.5

引脚间距(mm):0.5

脚位:8

适配芯片尺寸:2*3 mm