DFN8-1.27(6*8)下压探针老化座

 产品简介

A、产品用途:老化座、测试座,对DFN8的IC芯片进行老化测试

B、适用封装:WSON\QFN\DFN8 引脚间距1.27mm

C、测试座:WSON\QFN\DFN8(6*8)-1.27

D、特点:采用U型顶针,接触稳定,性能更稳定

E、座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度硬、寿命长(翻盖结构10万次)

F、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD

G、IC进行有锡球、无锡球不同测试,,交期快,提高使用效率